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Recrutement

Nouveau partenariat avec YGK
L’inspection particulaire pour substrats standards et transparents

Eumetrys s’associe avec la firme japonaise YGK et propose des équipements d’analyse de contamination particulaire. Performants et personnalisables, ces outils répondent aux besoins des industries du semiconducteur ainsi que des compound semiconductor puisqu’ils peuvent inspecter des substrats tant transparents qu’opaques.

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Nouveau partenariat avec Shashin Kagaku
L’interférométrie Tabletop complète et compacte

Découvrez l’EFiT-TT, l’équipement de mesure d’épaisseur de couche Tabletop sur wafers et échantillons Si. Cet outil conçu par Shashin Kagaku, équipementier japonais reconnu, est un outil compact, fiable et complet qui satisfera les besoins d’instituts de recherche comme de l’industrie du semiconducteur à volume modéré.


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Partenariat avec Merconics
Développer notre activité en Allemagne

EUMETRYS a conclu un partenariat avec Merconics qui est en charge du développement des systèmes de métrologie optique Overlay et CD pour les grands comptes en Allemagne.
           
Nous sommes heureux de travailler avec Merconics et son président Harald Moder pour développer notre activité en Allemagne.
 
Si vous avez besoin de plus d’informations concernant nos systèmes de métrologie optique afin de mesurer Overlay, CD ou MEMs sur des substrats SiC, GaAs, Verre, Quartz, MEMs et LED ou sur des wafers en Silicium standards, n’hésitez pas à contacter HARALD MODER à Merconics.